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题名:
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电子元器件可靠性技术基础 dian zi yuan qi jian ke kao xing ji shu ji chu / 付桂翠 ... [等] 编著 , |
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ISBN:
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978-7-5124-3714-2 价格： CNY55.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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268页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 北京航空航天大学出版社 出版日期： 2022.01 |
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内容提要:
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本书主要围绕航空航天等装备产品高可靠、长寿命需求背景下的电子元器件可靠性保证技术这一主题, 针对电子元器件的固有可靠性和使用可靠性相关的技术进行详细的介绍。首先简要介绍电子元器件的可靠性及电子元器件的分类。其次, 在固有可靠性中, 介绍电子元器件的制造技术、封装技术及可靠性试验技术。在使用可靠性部分, 主要介绍使用可靠性保证、电子元器件的降额设计、热设计与热分析、可靠性筛选、静电损伤及防护、破坏性物理分析、失效分析等技术。最后介绍基于失效物理的元器件可靠性评价技术。 |
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主题词:
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电子元件 可靠性 |
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中图分类法:
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TN6 版次： 5 |
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主要责任者:
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付桂翠 fu gui cui 编著 |
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主要责任者:
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万博 wan bo 编著 |
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主要责任者:
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张素娟 zhang su juan 编著 |
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主要责任者:
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高成 gao cheng 编著 |
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版次:
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第2版 |