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题名:
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集成电路系统设计、验证与测试 / (美)Louis Scheffer[等]著 , 陈力颖,王猛译 |
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ISBN:
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978-7-03-021490-4 价格： CNY62.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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xiv, 475页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2008.06 |
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内容提要:
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本书涵盖了IC设计过程和EDA, 系统级设计方法与工具, 系统级规范与建模语言, SoC的IP设计, MPSoC设计的性能验证方法, 处理器建模与设计工具, 嵌入式软件建模与设计等内容。 |
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主题词:
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集成电路 电路设计 |
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中图分类法:
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TN402 版次： 4 |
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主要责任者:
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Louis Scheffer 著 |
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次要责任者:
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陈力颖 译 |
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次要责任者:
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王猛 译 |